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產品詳情
簡單介紹：
德國BMT AFM 3000原子力顯微鏡,滿足工業生產中對納米級表面測量
詳情介紹：
德國BMT AFM 3000原子力顯微鏡
主要特點：
◆ 操作極其簡便，用戶控制，模塊化構造
◆ 多用掃描 測量頭, 就極高的穩定性作了優化
◆ 多測量模式選擇: 接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對比度。
◆ 使用同一個測量頭可達到的掃描范圍從納米級到面積為 200 µm x 200µm
◆ 包括化學對比度成像 (CCI-AFM) 模式
◆ 包括保護氣體選項
◆ 可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量
◆ 包括可在液體中測量的工作方式
◆ 極有用途的附加模塊包括：納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構造 (LithoScan)
◆ 可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊 根據特
◆ 殊要求可提供應用實例